 | 半微量电子天平HA225SM-FR半微量浮动量程电子天平（称量范围61~225g，读数精度0.01 mg / 0.1 mg，SLS全自动线性校准），内部校准 |
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 | 半微量电子天平HA225SM-DR半微量双量程电子天平，称量范围102/225g，读数精度0.01 mg / 0.1 mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
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 | 半微量电子天平HA125SM称量范围：125g，读数精度：0.01 mg，校准方式：内部校准 |
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 | 电子天平HA520A称量范围520g，读数精度0.1mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
 | 半微量电子天平HE225SM-FR半微量浮动量程电子天平（称量范围61~225g，读数精度0.01mg /0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 半微量电子天平HA125SM-FR称量范围：61~125g，读数精度：0.01 mg / 0.1 mg，校准方式：内部校准 |
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 | 电子天平HA320A称量范围320g，读数精度0.1mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
 | 半微量电子天平HE225SM-DR半微量双量程电子天平，称量范围102/225g，读数精度0.01mg/0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 半微量电子天平HE125SM半微量电子天平，称量范围125g，读数精度0.01mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 电子天平HE520A称量范围：520g，读数精度：0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
 | 电子天平HA220A称量范围220g，读数精度0.1 mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
 | 电子天平HA120A称量范围120g，读数精度0.1mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
 | 半微量电子天平HE125SM-FR半微量浮动量程电子天平（称量范围61~125g，读数精度0.01mg / 0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 电子天平HE320A称量范围：320g，读数精度：0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
 | 工业天平ISK34000D称量范围：34100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平EP125SM称量范围：125g，读数精度：0.01mg，SCS智能内校功能 |
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 | 电子天平HE220A称量范围：220g，读数精度：0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
 | 工业天平ITK34000D称量范围：34100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK24000D称量范围：24100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK60000G称量范围：60100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 电子天平HE120A称量范围：120g，读数精度：0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
 | 工业天平IBK34000D称量范围：34100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平EP520A称量范围：520g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 工业天平ITK24000D称量范围：24100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK60000G称量范围：60100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平EP225SM-DR半微量双量程天平，称量范围：102g/225g，读数精度：0.01mg/0.1mg，SCS智能内校功能 |
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 | 工业天平ISK18000D称量范围：18100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平EP420A称量范围：420g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 工业天平IBK24000D称量范围：24100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK12000D称量范围：12100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平IBK60000G称量范围：60100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平ES125SM称量范围：125g，读数精度：0.01mg，SCS智能内校功能 |
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 | 工业天平ITK18000D称量范围：18100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK20000G称量范围：20100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK12000D称量范围：12100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平IBK18000D称量范围：18100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
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