 | 分析天平LS220A称量范围：220g，读数精度：0.1mg，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平XB220A称量范围：220g， 读数精度：0.1mg， 校准方式：外部校准 |
 | 工业天平SRS75K称量范围：75kg，分辨率：5g，钢结构秤台，配置SRD-ABS控制器及立柱 |
 | 半微量电子天平EP225SM-DR半微量双量程天平，称量范围：102g/225g，读数精度：0.01mg/0.1mg，SCS智能内校功能 |
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 | 半微量电子天平ES225SM-DR半微量双量程天平，称量范围：102g/225g，读数精度：0.01mg/0.1mg，SCS智能内校功能 |
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 | 分析天平XB120A-SCS称量范围：120g， 读数精度：0.1mg， SCS智能内校功能 |
 | 工业天平SRC75K称量范围：75kg，分辨率：5g，不锈钢秤台，配置SRM-SST多功能控制器及立柱 |
 | 半微量电子天平HE225SM-FR半微量浮动量程电子天平（称量范围61~225g，读数精度0.01mg /0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 分析天平XJ220A称量范围：220g，读数精度：0.1mg，彩色触摸屏显示，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平XB120A称量范围：120g， 读数精度：0.1mg， 校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XJ320M称量范围：320g，读数精度：1mg，彩色触摸屏显示，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XB620M称量范围：620g， 读数精度：1mg， 校准方式：外部校准 |
 | 精密天平ES320M称量范围：320g，读数精度：1mg，SCS智能内校功能 |
 | 半微量电子天平HE125SM-FR半微量浮动量程电子天平（称量范围61~125g，读数精度0.01mg / 0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 半微量电子天平EP125SM称量范围：125g，读数精度：0.01mg，SCS智能内校功能 |
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 | 工业天平ISK60000G称量范围：60100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XB6200C称量范围：6200g， 读数精度：0.01g， 校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平HA225SM-DR半微量双量程电子天平，称量范围102/225g，读数精度0.01 mg / 0.1 mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
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 | 工业天平IBK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平SRS300K称量范围：300kg，分辨率：20g，钢结构秤台，配置SRD-ABS控制器及立柱 |
 | 电子天平HA320A称量范围320g，读数精度0.1mg，SLS全自动线性校准，内部校准 |
 | 精密天平XJ620M称量范围：620g，读数精度：1mg，彩色触摸屏显示，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XJ6200C称量范围：6200g，读数精度：0.01g，彩色触摸屏显示，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XJ3200C称量范围：3200g，读数精度：0.01g，彩色触摸屏显示，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XB3200C称量范围：3200g， 读数精度：0.01g， 校准方式：外部校准 |
 | 精密天平ES2220M称量范围：2220g，读数精度：1mg，SCS智能内校功能 |
 | 分析天平LS120ASCS称量范围：120g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 工业天平ISK20000G称量范围：20100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平BJ100M称量范围：100g，读数精度：1mg， 校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XB6200D称量范围：6200g， 读数精度：0.1g， 校准方式：外部校准 |
 | 工业天平SRC150K称量范围：150kg，分辨率：10g，不锈钢秤台，配置SRM-SST多功能控制器及立柱 |
 | 工业天平SRS150K称量范围：150kg，分辨率：10g，钢结构秤台，配置SRD-ABS控制器及立柱 |
 | 半微量电子天平HA225SM-FR半微量浮动量程电子天平（称量范围61~225g，读数精度0.01 mg / 0.1 mg，SLS全自动线性校准），内部校准 |
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 | 半微量电子天平HE125SM半微量电子天平，称量范围125g，读数精度0.01mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 工业天平ISK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平HE225SM-DR半微量双量程电子天平，称量范围102/225g，读数精度0.01mg/0.1mg，SLS全自动线性校准，校准方式：内部校准 |
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 | 工业天平IBK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平XJ1200C称量范围：1200g，读数精度：0.01g，彩色触摸屏显示，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平HA125SM称量范围：125g，读数精度：0.01 mg，校准方式：内部校准 |
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