梅特勒XS3DU分析天平产品介绍:
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。
梅特勒XS3DU分析天平技术参数:
| 极限值 | XS3DU 双量程 |
| 最大称量值 | 3.1 g |
| 可读性 | 0.01 mg |
| 最大称量值 | 0.8 g |
| 可读性 | 0.001 mg |
| 重复性(sd) - 加载处 | 0.006 mg |
| - 低加载(加载处) | 0.005 mg (0.2 g) |
| 重复性(sd) - 加载处 | 0.001 mg |
| - 低加载(加载处) | 0.0008 mg (0.2 g) |
| 线性误差 | 0.004 mg |
| 典型值 4) | |
| 典型重复性(sd) | 0.0005 mg +1.2 x (10 –7 )•R_gr |
| 典型微分非线性(sd) | √2x(10 -12 )g·R_nt |
| 典型灵敏度偏移(sd) 2) | 3 x (10 –6 )•R_nt |
| 典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.1 mg+2.4 x (10 –6 )•R_gr |
| 典型稳定时间 | < 6 sec |
| 稳定时间 | < 10 sec |
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年
* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。
梅特勒XS3DU分析天平描述:
| 标准配置 | 内置称量应用程序 | ||||||||||||||
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梅特勒XS3DU分析天平特征和利益:
世界领先的称量性能: XS3DU微量天平具有高性能的称量传感器,提供称量结果的至高重复性。 |
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| 电子天平网天平精度分类: | 1g/一克精度电子天平 | 0.1g/十分之一克电子天平 | 密度天平 |
| 0.01g/百分之一克电子天平 | 0.001g/1mg/千分之一克电子天平 | 0.1mg/万分之一克电子天平 | 机械天平 |
| 0.01mg/十万分之一克电子天平 | 0.001mg,1μg/百万分之一克电子天平 | 静水力学天平 扭力天平 | 工业台称 |
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