 | 分析天平AP224W称量范围：220g，精度：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | 分析天平AP125WD称量范围：120g/52g，精度：0.1mg/0.01mg，校准方式：内部校准 |
|
 | 分析天平AP224Y称量范围：220g，精度：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | 电子分析天平GL124-1SCN称量范围：120g，精度：0.1mg， 校准方式：外部校准 |
 | ES-E210A电子分析天平量程：210g,可读性：0.1mg,校准方式：内部校准。 |
 | XSE204分析天平量程及可读性:220g/0.1mg，校准方式：内部校准。 |
 | 电子分析天平GL224i-1SCN称量范围：220g，精度：0.1mg， 校准方式：内部校准 |
 | XSE104分析天平量程及可读性:120g/0.1mg，校准方式：内部校准。 |
 | ES-E120B电子分析天平量程：120g,可读性：0.1mg,校准方式：外部校准。 |
 | ATX224分析天平量程：220g，可读性：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | 分析天平AP135W称量范围：135g，精度：0.01mg，校准方式：内部校准 |
|
 | XSE205DU分析天平量程及可读性:0～81g/0.01mg,0～220g/0.1mg，校准方式：内部校准。 |
|
 | ATX124分析天平量程：120g，可读性：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | ATY224分析天平量程：220g，可读性：0.1mg，校准方式：外校校准 |
 | 电子分析天平GL124i-1SCN称量范围：120g，精度：0.1mg， 校准方式：内部校准 |
 | XSE105DU分析天平量程及可读性：0～41g/0.01mg,0～120g/0.1mg，校准方式：内部校准 |
|
 | 电子分析天平GL224-1SCN称量范围：220g，精度：0.1mg， 校准方式：外部校准 |
 | XPE204分析天平量程及可读性:220g/0.1mg，校准方式：内部校准。 |
 | ATY124分析天平量程：120g，可读性：0.1mg，校准方式：外部校准 |
 | *TG628A机械分析天平200g/1mg |
 | *TG328A机械分析天平200g/0.1mg;整套砝码、变压器、灯泡壳、清洁毛刷 |
 | *TG328B机械分析天平200g/0.1mg;整套砝码、变压器、灯泡壳、清洁毛刷 |
 | XPE205DR分析天平量程及可读性:81g/0.01mg,220g/0.1mg，校准方式：内部校准。 |
|
 | 分析天平AP225WD称量范围：220g/102g，精度：0.1mg/0.01mg，校准方式：内部校准 |
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 | 分析天平AP324X称量范围：320g，精度：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | 分析天平AP124Y称量范围：120g，精度：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | XP504DR分析天平最大称量范围：101 g / 520 g ，可读性：0.1 mg / 1 mg ，校准方式：内部校准 |
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 | XPE105分析天平量程及可读性:120g/0.01mg，校准方式：内部校准。 |
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 | XS3DU分析天平量程及可读性:0～800mg/1ug,0～3.1g/10ug，校准方式：内部校准。 |
 | XPE205分析天平量程及可读性:220g/0.01mg，校准方式：内部校准。 |
|
 | XPE504分析天平量程及可读性:520g/0.1mg，校准方式：内部校准。 |
 | FA2204B(M)电子分析天平(带密度装置)量程：0-220g，可读性：0.1mg，校准方式：自动外部校准 |
 | FA1204B(M)电子分析天平(带密度装置量程：0-120g，可读性：0.1mg，校准方式：自动外部校准 |
 | FA3204B(M)电子分析天平(带密度装置)量程：0-320g，可读性：0.1mg，校准方式：自动外部校准 |
 | FA2004B(M)电子分析天平(带密度装置)量程：0-200g，可读性：0.1mg，校准方式：自动外部校准 |
 | 分析天平AP124X称量范围：120g，精度：0.1mg，校准方式：内部校准 |
 | 分析天平AP124W称量范围：120g，精度：0.1mg，校准方式：内部校准 |
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